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（1）將晶控時(shí)間開(kāi)關(guān)的時(shí)基頻率檢測(cè)孔（或端鈕）與計(jì)時(shí)誤差等于（或優(yōu)于）0.05s/d的日差測(cè)試儀的輸入端相連，通電預(yù)熱1h后開(kāi)始測(cè)量時(shí)間，重復(fù)測(cè)量10次，每次測(cè)量時(shí)間1min，取10次測(cè)量結(jié)果的平均值，即得瞬時(shí)日計(jì)時(shí)誤差。
（2）無(wú)日差測(cè)試儀時(shí)，可將晶控時(shí)間開(kāi)關(guān)連續(xù)運(yùn)行72h。根據(jù)電臺(tái)報(bào)時(shí)聲，每隔24h測(cè)量1次計(jì)時(shí)誤差，取3次計(jì)時(shí)誤差的平均值作為日計(jì)時(shí)誤差。
（3）用標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘或頻率準(zhǔn)確度不低于2×10-7S-1的電子計(jì)數(shù)器確定日計(jì)時(shí)誤差。